journal：IEEE Embedded Systems Letters
Authors：Minho Ha; Sunggu Lee
Published date：2018-3-
DOI：10.1109/les.2017.2746084
PDF link：https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=8017557
Article link：http://dx.doi.org/10.1109/les.2017.2746084
Article Source：Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)。
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